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  • SENTERRA II拉曼顯微鏡

    拉曼顯微鏡采用掃描探針式成像技術,能夠克服傳統(tǒng)光學顯微鏡的低分辨率限制,實現(xiàn)納米尺度的成像。這種技術不僅可以提供高清晰度的圖像,而且還可以對樣品進行無損檢測,避免了對樣品的破壞。此外,還可以結合材料的光學性質進行多物理場耦合表征,為科學研究提供更多的信息和數(shù)據(jù)。

    更新時間:2024-01-24
    產(chǎn)品型號:SENTERRA II
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